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Uso de tecnicas de difraccion de rayos -X en la caracterizacionestructural de algunos materiales de interes Jose Antonio Henao Martinez ; asesor : Miguel Delgado.

Por: Henao Martinez, Jose Antonio.
Colaborador(es): Delgado, Miguel | Universidad de los Andes (Venezuela). Facultad de Ciencias.
Editor: Merida Universidad de los Andes 1997Descripción: 170 h. il. 28 cm.Tema(s): QUIMICA ESTRUCTURAL | DIFRACCION DE RAYOS X | RADIOCRISTALOGRAFIA | CRISTALOGRAFIA | SEMICONDUCTORES POLICRISTALINOSNota de disertación: Tesis (Doctorado en Quimica Aplicada) -- Universidad de los Andes, Merida,1997.
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Tipo de ítem Ubicación actual Colección Signatura Estado Fecha de vencimiento
TES-Tesis de Maestrias y Doctorados TES 00114 (Navegar estantería) Disponible

Tesis (Doctorado en Quimica Aplicada) -- Universidad de los Andes, Merida,1997.

Incluye bibliografia.

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